金屬薄膜四探針電阻率測試儀

一般目前的四探針電阻率（電導率）測試儀均已配置厚度的修正，通過厚度數值的設置，計算出不同的樣品厚度對電阻率的影響。數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，zui常用的是直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上，并且間距相等，都是S，一般采用0.5mm的間距，不同的探針間距需要對測量結果做相應的校正?？梢詼y量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。

 金屬薄膜四探針電阻率測試儀

    儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結果由數字表頭直接顯示。在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進行動態的自動修正，測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。  

恒流源：

輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔

10mA量程：0.1～1mA 連續可調

10mA量程：1mA ～10mA連續可調

恒流精度：各檔均優于±0.1%

適合測量各種厚度的硅片
 

基本技術參數 

1.測量范圍、分辨率

電    阻：     1.0×10-3～ 200.0×103 Ω,    分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω

電 阻 率：     1.0×10-3～ 20.0×103Ω-cm  分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω-cm

方塊電阻：     10.0×10-3～ 200.0×103Ω/□  分辨率1.0×10-3～ 0.1×103 Ω/□

測量范圍：0～199.9mv，靈敏度：100μv，準確度：0.2%（±2個字），供電電源：AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W

 使用環境：

相對濕度≤80%

重量、體積

重量：2.2 公斤

體積：寬210×高100×深240（mm）

 產品特點：

■ 四探針：一次測量，顯示完整電阻率值。

■ 采用了*的恒流源技術，能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求

■電阻率測量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選

■ 電流測量：本儀器采用良好芯片技術，可通過調節硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測量使用更加簡便準確，本儀器可根據需要配備測試平臺， 利用測試平臺可以測試薄片電阻率

 注意事項：

1、儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經常拔下，避免灰塵進入航空插引起短接等現象，

2、探針筆測試結束，套好護套，避免人為斷針

3、儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規范操作

4、輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量

量程劃分及誤差等級